PW-CTS55 TEC快速冷热冲击试验机（接触式热流仪）

产品概述：

       PW高低温控制系统通过测试头与DUT之间直接接触，将DUT的温度（壳温或者结       温）调整到目标温度点进行相应的性能测试。同时适用于已焊接的芯片和使用电路引起的不确定性。                                      

       该设备的作用是帮助客户在半导体、电子和其他设备的开发和制造过程中进行温度测试和验证。可以快速实现高低温环境变化，工作效率极高，可以节省大量的研发时间。

系统组成：

主机：可根据具体需求选取合适的主机型号. 这是整个控制系统的核心。

测试头前端：实现测试头和待测芯片的连接以及能量传导。测试架一方面起到固定的作用,另一方面也适用于没有socket器件的测试。

关于主机：

1、制冷功率曲线和测试产功率关系如下图所示：

该设备可以达到的最低温度与DUT的热功率有关。 假如DUT热功率是30W（横轴）， 该设备可以把壳温降到-65℃（纵轴） 。

2、主要特点总结

a、该型号主机功率较大，可以满足大部分的芯片测试要求，  即使DUT的热功耗达到30W ，该设备也可以轻松达到-40℃并长时间稳定在该温度点。

b、升降温速率快：从常温+25℃降到-40℃小于2min，从+125℃降到常温+25℃小于2min。

c、也是目前客户最多的选择，代表客户有华为海思半导体。

d、主机重量适中（43Kg），尺寸（L) 460mm x (W) 400mm x (H)365mm，可以很方便地移动。

e、噪音较小，可以给测试工程师营造一个安静的工作环境。

f、不需要任何维护保养，插电（220V）即可使用。

关于测试头前端 （针对已焊接的芯片）：

1、标准测试架：对测试头进行固定和支撑以及实现升降功能。

2、测试头：测试前端的主体部分。

3、柱塞：通过该柱塞实现能量传递， 内置有温度传感器，实时反馈芯片的真实温度。一般需根据不同DUT尺寸加工。

4、测试头防冷凝屏蔽罩：使用一种耐高低温材料罩住测试头形成一个腔体，测试头内部会吹出干燥空气，这样可以防止低温下在这个腔体内产生冷凝水或者结霜。

5、 背面防冷凝屏蔽罩：从气嘴通入干燥空气，  防止PCB底部冷凝或结霜。